光學平臺的測試方法是什么

更新時間：2015-08-13

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光學平臺的測試方法是什么

　　 光學平臺，又稱光學面包板、光學桌面、科學桌面、實驗平臺，供水平、穩(wěn)定的臺面，一般平臺都需要進行隔振等措施，保證其不受外界因素干擾，使科學實驗正常進行。

　　 光學平臺測試方法

　　阻尼

　　光學平臺或面包板zui重要的特性為其共振頻率。共振頻率和振幅是負相關的，因此共振頻率應盡可能地增大，從而將振動強度zui小化。平臺和面包板會在一個特定的頻率范圍內(nèi)發(fā)生振動。為了改善性能，每種尺寸的平臺和面包板的阻尼效果都需要進行優(yōu)化。

　　平臺阻尼需要進行各種測試，對其厚度/面積的比值進行優(yōu)化。更大面積的平臺（邊長至少為10英尺或3米）具有厚度為12.2英寸（310毫米）的標準厚度，這樣可以提高穩(wěn)定性。對于更小面積的平臺，厚度可以是8.3英寸（210毫米）或12.2英寸（310毫米），也可定制更大尺寸。

　　柔量

　　光學平臺zui廣泛使用的振動響應傳遞函數(shù)為柔量。在恒定（靜態(tài)）力的情況下，柔量可以定義為線性或角度錯位與所施加外力的比值。在動態(tài)變化力（振動）的情況下，柔量則可以定義為受激振幅（角度或線性錯位）與振動力振幅的比值。平臺的任意撓度都可以通過安裝在平臺表面的部件相對位置變化表現(xiàn)出來。因此，根據(jù)定義，柔量值越小，光學平臺就越接近設計的首要目標：將撓度zui小化。柔量是與頻率相關的，其測量單位為沒單位力的錯位量（米/牛頓）。

　　測量方法

　　使用脈沖錘對平臺或面包板的表面施加一個已測量的外力，并將一個傳感器貼合在平臺或面包板表面對合成振動進行測量。

　　探測器發(fā)出的信號通過分析儀進行讀取，并用于產(chǎn)生頻率響應譜（即柔量曲線）。在光學平臺的研發(fā)過程中，對平臺表面上很多點的柔量曲線進行記錄；但是，平臺四個角上的柔量往往都是zui大的。因此公司發(fā)布的柔量曲線和數(shù)據(jù)都是通過平傳感器在臺四個角上測得的，因此說明了zui不理想情況下的數(shù)據(jù)結果。

　　單測數(shù)據(jù)

　　產(chǎn)品都需經(jīng)過獨立測試，并附帶一份單獨的測試數(shù)據(jù)報告和柔量曲線。這樣一來，就可以提供比采用單一尺寸柔量曲線表示所有產(chǎn)品特性的工業(yè)標準更數(shù)據(jù)。柔量曲線和數(shù)據(jù)都是通過平傳感器在臺四個角上測得的，因此說明了zui不理想情況下的數(shù)據(jù)結果。

上一條光學平臺的主要構成及應用
下一條體視顯微鏡具有的優(yōu)勢及用途介紹

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